控制系統(tǒng)：該設備主要 由箱體、制冷系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、空氣循環(huán)系統(tǒng)以及控制系統(tǒng)組成

箱體包裝：箱體的外殼 為采用冷軋鋼板靜電噴塑，內膽采用優(yōu)質不銹鋼板，箱門中間設大面積觀察窗，并配有觀察燈，使用戶 可以清晰地看到試樣的試驗情況。外型整體美觀大方。保溫層為硬質聚氨脂發(fā)泡加上少量的超細玻璃棉 ，具有強度高，保溫性有好等特點

溫控系統(tǒng)：該設備主要 溫度控制儀采用智能數(shù)顯溫濕度控制儀，人性化設計的操作方法，易學易用，并且不同功能檔次的儀表 操作相互兼容。輸入采用數(shù)字校正系統(tǒng)，內置常用熱電偶和熱電阻非線性校正表格，測量精確穩(wěn)定。具 備位式調節(jié)和AI人工智能調節(jié)功能，0.2級精度，多種報警模式。升溫、降溫、加濕、去濕獨立，獨特的 BTHC平衡調溫調濕方式。

　高低溫試驗箱 冷熱沖擊設備用途：

 該設備主要是針對于電工、電子產品 ，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應性試驗。該試驗設備主 要用于對產品按照國家標準要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、條件下，對產品的物理以及其他相關 特性進行環(huán)境模擬測試，測試后，通過檢測，來判斷產品的性能，是否仍然能夠符合預定要求，以便供 產品設計、改進、鑒定及出廠檢驗用。

 高低溫試驗箱 冷熱沖擊滿足標準：

GB 10589-89 低溫試驗箱技術條件
GB 10592-89 高低溫試驗箱 冷熱沖擊技術條件
GB 11158-89 高溫試驗箱技術條件
GB/T5170.2-1996 電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參 數(shù)檢定方法 溫度試驗設備
GB2423.1-89 電工電子產品基本試驗規(guī)程 試驗 A:低溫試驗方法
GB2423.2-89 電工電子產品基本試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗 方法
GB2424.1-89 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 高溫低溫試驗導則

高低溫試驗箱 冷熱沖擊主要技術指標：

高低溫試驗箱 冷熱沖擊型號規(guī)格高低溫試驗箱：

型號規(guī)格      工作室尺寸(mm)
 
GDW-100    400×450×550
GDW-150    500×600×500
GDW-225    500×600×750
GDW-408    600× 800×850
GDW-500    800×800×800 
GDW-800    800×1000×1000 
GDW-010    1000×1000×1000